ARES LAB
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碩班畢業生

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105碩班畢業生
游雲超

中文姓名:游雲超
英文姓名:Yu,Yun-Chao
博士班  :中央大學
碩士班  :中央大學
大學    :淡江大學
E-mail  :985201108@cc.ncu.edu.tw
研究主題:

105碩班畢業生
李昱霆

中文姓名:李昱霆
英文姓名:Li,Yu-Ting
大學    :嘉義大學
E-mail  :y865507@hotmail.com
研究主題:
  • 電阻性非揮發性靜態隨機存取式記憶體之測試與診斷
    Testing and Diagnosis of Memristor-Based Nonvolatile SRAMs


105碩班畢業生
林姿穎

中文姓名:林姿穎
英文姓名:Lin,Tzu-Ying
大學    :輔仁大學
E-mail  :rita510579@gmail.com
研究主題:
  • 1T1R憶阻器記憶體的邊界電流識別和可靠性增強技術
    Boundary Current Identification and Reliability-Enhancement Techniques for 1T1R Memristor Memories

工作經歷:2016 公司:TSMC

104碩班畢業生
楊其峻

中文姓名:楊其峻
英文姓名:Yang,Chi-Chun
碩士班  :中央大學
大學    :中興大學
E-mail  :jim790222@hotmail.com
研究主題:
  • 應用於動態隨機存取記憶體之混合式自我測試方法
    A Hybrid Built-In Self-Test Scheme for DRAMs

工作經歷:2015 公司:創意電子

104碩班畢業生
楊維軒

中文姓名:楊維軒
英文姓名:Yang,Wei-Hsuan
碩士班  :中央大學
大學    :暨南大學
E-mail  :del10449@yahoo.com.tw
研究主題:
  • 應用於邏輯與動態隨機存取記憶體堆疊式三維積體電路之堆疊後測試與良率提升方法
    Post-Bond Test and Yield-Enhancement Techniques for Logic-DRAM Stacked ICs

工作經歷:2015 公司:晨星半導體

104碩班畢業生
陳宣豪

中文姓名:陳宣豪
英文姓名:Chen,Shinan-Hou
碩士班  :中央大學
大學    :元智大學
E-mail  :9003520@yahoo.com.tw
研究主題:

104碩班畢業生
陳宇軒

中文姓名:陳宇軒
英文姓名:Chen,Yu-Hsuan
碩士班  :中央大學
大學    :中央大學
E-mail  :luckysean7949@yahoo.com.tw
研究主題:
  • 應用於半導體記憶體之基於BCH碼可靠度與良率增強技術
    Reliability and Yield Enhancement Techniques for Semiconductor Memories Using BCH Code

工作經歷:2015 公司:瑞昱半導體

103碩班畢業生
張家銘

中文姓名:張家銘
英文姓名:Chang,Chia-Ming
碩士班  :中央大學
大學    :淡江大學
E-mail  :100521025@cc.ncu.edu.tw
研究主題:
  • 應用於動態隨機存取記憶體之自我測試輔助復新功率降低技術
    BIST-Assisted Refresh Power Reduction Techniques for DRAMs


102碩班畢業生
周哲緯

中文姓名:周哲緯
英文姓名:Chou,Che-wei
碩士班  :中央電機
大學    :中央電機
E-mail  :975201018@cc.ncu.edu.tw
研究主題:
  • 用於三維積體電路之測試整合與良率提升技術
    Test Integration and Yield-Enhancement Techniques for 3-D ICs

工作經歷:2013 公司:TSMC

102碩班畢業生
巫函諭

中文姓名:巫函諭
英文姓名:Wu,Han-Yan
E-mail  :u9520006@ems.ndhu.edu.tw
研究主題:
  • 用於三維積體電路矽穿孔之內建測試與量測技術
    Built-In Test and Measurement Techniques for Through-Silicon Vias of 3D ICs


101碩班畢業生
張立蓉

中文姓名:張立蓉
英文姓名:Chang,Li-Jung
碩士班  :中央大學
大學    :元智大學
E-mail  :whaleinblue@gmail.com
研究主題:
  • 應用於三維記憶體脂可靠度增強技術
    Reliability-Enhancement Techniques for TSV-Based 3D RAMs

工作經歷:2013 公司:瑞昱半導體

100碩班畢業生
張藝儒

中文姓名:張藝儒
英文姓名:Chang,Yi-Ju
大學    :長庚大學
E-mail  :985201109@cc.ncu.edu.tw
研究主題:
  • 應用於大容量隨機存取記憶體之內建自我修復技術
    Built-In Self-Repair Scheme for Large-Capacity RAMs

工作經歷:2012 公司:廣達電腦

98碩班畢業生
吳俊賢

中文姓名:吳俊賢
英文姓名:Wu,Chun-Hsien
碩士班  :國立中央大學
E-mail  :93521039@cc.ncu.edu.tw
研究主題:
  • 應用於內嵌式記憶體之高效率診斷性資料壓縮與可測性方案
    Efficient Diagnostic Data Compression and DFT Schemes for Embedded Memory Applications


98碩班畢業生
永昇平

中文姓名:永昇平
英文姓名:Yung,Sheng-Ping
碩士班  :國立中央大學電機學系
大學    :國立中央大學電機學系
E-mail  :h3194701@hotmail.com
Homepage:http://www.wretch.cc/blog/ctman
研究主題:
  • 特定半導體記憶體之測試與可靠度設計技術研究
    Testing and Design-for-Reliability Techniques for Specific Semiconductor Memories

工作經歷:2010 公司:瑞昱半導體

98碩班畢業生
胡詠鈞

中文姓名:胡詠鈞
英文姓名:Hu,Yong-Jyun
碩士班  :中央大學電機所
大學    :中正大學電機系
E-mail  :helofox@alumni.ccu.edu.tw
研究主題:
  • 應用於內容定址記憶體三維度空間結構之探究與測試
    Three Dimensional Architecture Exploration and Testing of Content Addressable Memories

工作經歷:2010 公司:智原科技

98碩班畢業生
傅挺峻

中文姓名:傅挺峻
英文姓名:Fu,Ting-Jun
碩士班  :國立中央大學
大學    :國立勤益科技大學
E-mail  :rwpeoo@gmail.com
研究主題:
  • 應用於隨機存取記憶體之內建診斷資料壓縮技術
    Built-In Diagnostic Data Compression Techniques for Random Access Memory Diagnosis

工作經歷:2010 公司:華擎科技

98碩班畢業生
陳亭如

中文姓名:陳亭如
英文姓名:Chen,Ting-Ju
碩士班  :國立中央大學
大學    :輔仁大學
E-mail  :975201027@cc.ncu.edu.tw
研究主題:
  • 三維系統級封裝晶片之記憶體的測試與修復
    Testing and Repair of Memories in 3D-SiP Chips

工作經歷:2010 公司:瑞昱半導體

97碩班畢業生
盧星辰

中文姓名:盧星辰
英文姓名:Lu,Hsing-Chen
碩士班  :中央電機
大學    :輔大電子
E-mail  :965201027@cc.ncu.edu.tw
研究主題:
  • 應用於隨機存取記憶體之有效良率及可靠度提升技術
    Efficient Yield and Reliability Enhancement Techniques for Random Access Memories

工作經歷:2010 公司:瑞昱半導體

96碩班畢業生
謝維哲

中文姓名:謝維哲
英文姓名:Hsieh,Wei-jer Ross
碩士班  :國立中央大學
大學    :國立中央大學
E-mail  :955201008@cc.ncu.edu.tw
研究主題:
  • 多核心系統晶片之診斷方法
    Diagnosis Approaches for Multi-Core System Chips

工作經歷:2010 公司:台積電

96碩班畢業生
劉祥甯

中文姓名:劉祥甯
英文姓名:Liu,Hsiang-Ning
碩士班  :國立中央大學
大學    :國立中央大學
E-mail  :955201035@cc.ncu.edu.tw
研究主題:
  • 應用於網路晶片上隨機存取記憶體測試及修復之基礎矽智產
    Infrastructure IPs for Testing and Repairing RAMs in Network-on-Chips

工作經歷:2010 公司:聯發科

96碩班畢業生
Kevin / 賴駿凱

中文姓名:Kevin / 賴駿凱
英文姓名:Lai,Chun-Kai
E-mail  :945901006@cc.ncu.edu.tw
研究主題:
  • 低功率與可自我修復之三元內容定址記憶體設計
    Design of a Low-Power and Self-Repairable Ternary Content Addressable Memory

工作經歷:2011 公司:NOVATEK Microelectronics Corp. / 聯詠科技

96碩班畢業生
黃秉偉

中文姓名:黃秉偉
英文姓名:Huang,Bing-Wei
E-mail  :955201128@cc.ncu.edu.tw
研究主題:
  • 應用於貪睡靜態記憶體之有效診斷與修復技術
    Efficient Diagnosis and Repair Techniques for Drowsy Static Random Access Memories


95碩班畢業生
楊舜勛

中文姓名:楊舜勛
英文姓名:Yang,Shun-Hsun
碩士班  :國立中央大學
大學    :國立中興大學
E-mail  :945201005@cc.ncu.edu.tw
研究主題:
  • 使用雙倍疊乘累加命中線之低功率三元內容定址記憶體設計
    Design of Low Power TCAMs Using Double Pai-Sigma Match Lines

工作經歷:2010 公司:聯詠科技

95碩班畢業生
楊耀先

中文姓名:楊耀先
英文姓名:Yang,Yao-Xian
大學    :淡江大學
E-mail  :kmaizard3@hotmail.com
研究主題:
  • 可自我測試且具成本效益之記憶體式快速傅利葉轉換處理器設計
    Design of Self-Testable and Cost-Efficient Memory-Based FFT Processors

工作經歷:2010 公司:威盛電子

94碩班畢業生
許智強

中文姓名:許智強
英文姓名:Hsu,Chih-Chiang
E-mail  :
研究主題:
  • 用於系統晶片中單埠與多埠記憶體之自我修復技術
    Built-In Self-Repair Schemes for Single-Port and Multiple-Port Memories in SOCs

工作經歷:2010 公司:智原科技

94碩班畢業生
黃昭達

中文姓名:黃昭達
英文姓名:Huang,Chao-Da
E-mail  :
研究主題:
  • 用於修復嵌入式記憶體之基礎矽智產
    An Infrastructure IP for Repairing Embedded Memories


94碩班畢業生
張達銘

中文姓名:張達銘
英文姓名:Chang,Da-Ming
E-mail  :
研究主題:
  • 自我修復記憶體之備份分析評估與驗證平台
    An Evaluation and Verification Platform for Built-In Redundancy Analysis Schemes of Self-Repairable Memories

工作經歷:2010 公司:瑞昱半導體

94碩班畢業生
郭曜彰

中文姓名:郭曜彰
英文姓名:Kuo,Yao-Chang
E-mail  :
研究主題:
  • 內容定址記憶體之鄰近區域樣型敏感瑕疵測試演算法
    Test Algorithms for CAMs with Neighborhood Pattern-Sensitive Faults

工作經歷:0000 公司:奕力科技

94碩班畢業生
余俊德

中文姓名:余俊德
英文姓名:Yu,Jiunn-Der
E-mail  :
研究主題:
  • 內嵌式記憶體中位址及資料匯流排之串音瑕疵測試
    Testing Crosstalk Faults of Address and Data Buses in Embedded Memories

工作經歷:2010 公司:台積電

93碩班畢業生
謝宏明

中文姓名:謝宏明
英文姓名:Hsieh,Hong-Ming
E-mail  :
研究主題:
  • 用於降低系統晶片內測試資料之基礎矽智產
    An Infrastructure IP for Reducing Test Data of SoCs


93碩班畢業生
張凡思

中文姓名:張凡思
英文姓名:Chang,Fan-Sie
E-mail  :
研究主題:
  • 用於隨機存取記憶體的接線驗證演算法
    Algorithms for Connectivity Verification of Random Access Memories

工作經歷:0000 公司:威盛電子

92碩班畢業生
林周坤

中文姓名:林周坤
英文姓名:Lin,Chou-Kun
E-mail  :
研究主題:
  • 應用於三元內容定址記憶體之低功率設計與測試技術
    Low-Power Design and Test Techniques for Ternary Content Addressable Memories

工作經歷:2010 公司:台積電